低溫糖心VOLG入口进入箱適用於非散熱和散熱兩類進行糖心VOLG入口进入研究樣品。氙燈老化糖心VOLG入口进入箱采用能模擬全陽光光譜的氙燈燈來再現不同環境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發和質量控製提供相應的環境模擬和加速糖心VOLG入口进入。高低溫糖心VOLG入口进入箱環境糖心VOLG入口进入設備裏麵最常見的溫度糖心VOLG入口进入設備，與其類似的相關產品有高低溫交變糖心VOLG入口进入箱、恒溫恒濕糖心VOLG入口进入箱、高低溫濕熱交變糖心VOLG入口进入箱等等。適用於工業產品高溫、低溫的可靠性糖心VOLG入口进入。步入式高低溫糖心VOLG入口进入室步入式高低溫糖心VOLG入口进入室應用於國防工業、航天工業、自動化零組件汽車部件、電子電器件、塑膠、化工、製藥工業及相關產品之耐熱、耐寒測試，為產業界提供大型零件，半成品，成品之大型溫濕度測試環境空間，適合於測試產品量多、體積大之糖心VOLG入口进入設備。考核和確定電工、電子技術產品在低溫工作環境經濟條件下可以貯存和使用的適應性。

低溫糖心VOLG入口进入方法分為以下三類

非冷卻測試樣品的低溫測試： - 測試 AA： 溫度突變

--糖心VOLG入口进入Ab：溫度進行漸變

散熱試樣低溫糖心VOLG入口进入: -- 糖心VOLG入口进入廣告: 溫度梯度

低溫糖心VOLG入口进入方法通常用於在條件糖心VOLG入口进入中能夠達到溫度穩定性的試樣。糖心VOLG入口进入持續時間從試樣溫度達到穩定的時間開始計算。在特殊情況下，如果在條件糖心VOLG入口进入過程中沒有達到試樣的溫度穩定性，糖心VOLG入口进入持續時間應從糖心VOLG入口进入箱達到規定的糖心VOLG入口进入溫度時開始計算。

相關規範應規定：

a）糖心VOLG入口进入箱內溫度環境變化發展速率；

B)將測試樣品放入測試室的時間

c） 在測試條件下暴露測試樣本的時間：

D)測試樣品通電或加載的時間。

在這些條件下，相關規格的起草人可以根據 gb/t 2424.1-1989指南選擇上述四個參數(在這些條件下正在考慮修訂)